Micro / Macro Kras tester Qscratch 20

De Qscratch 20 is een volautomatische macro/micro scratch tester voor kwaliteitscontrole van coatings, functionele oppervlakken en kritische belastingen. Het systeem combineert gecontroleerde krachtuitoefening, nauwkeurige elektronische belastingsregeling, geïntegreerde optische evaluatie en geleide bediening in QpixControl2. Dit maakt reproduceerbare scratchtests met progressieve of constante belasting mogelijk, inclusief gestructureerde evaluatie, documentatie en rapportage.

Met gemotoriseerde X/Y/Z-assen, enkelvoudige en meervoudige metingen en een automatische gereedschapswisselaar met 8 standen, is de Qscratch 20 ontworpen voor laboratoria die elke dag betrouwbare oppervlaktegerelateerde beslissingen nodig hebben. Het ondersteunt krastests volgens normen zoals DIN EN ISO 20502, ASTM C1624, ISO 27307 en ASTM G171. Optionele Vickers-hardheidstests en Qpix Inspect-analysemodules maken het systeem een flexibel platform voor coatingevaluatie, oppervlaktetests en kwaliteitsborging.

Micro / Macro Kras tester Qscratch 20 Productvoordelen

  • Volautomatische macro/micro krastester voor coatings en oppervlakken
  • Enkel- en meervoudige metingen voor efficiënte testseries
  • Elektronische krachtregeling met een testkrachtbereik van 0,5–200 N
  • Constante en progressieve belasting voor normconforme krastests
  • 8-standen automatische gereedschapswisselaar voor testmodules en lenzen
  • Gemotoriseerde X/Y/Z-assen met nauwkeurige positionering
  • QpixControl2 software met begeleide scratch workflow
  • Optionele hardheidsupgrade en Qpix Inspect analysefuncties

Micro / Macro Kras tester Qscratch 20 Experience the 3D model in the real world!

Micro / Macro Kras tester Qscratch 20 Test Methodes & Krachten Bereik

Methode Progressieve belasting

De initiële en uiteindelijke belastingen, evenals de belastingsgraad, worden gedefinieerd.De belasting neemt toe over de kraslengte; zichtbare gebeurtenissen kunnen worden toegewezen als Lc-punten op hun respectieve posities.
ISO: PFST - progressieve kracht krastest
ASTM: PL - progressieve belasting
Lc: Belasting kritisch

Methode Constante belasting

De normaalkracht blijft constant over de kraslengte. Deze methode is geschikt voor individuele metingen, serievergelijkingen en terugkerende testomstandigheden in een kwaliteitscontrole-instelling.
ISO: CFST - constante kracht krastest
ASTM: CL - constante belasting
Lc: Belasting kritisch

Test methodes Progressieve of constante belasting - afgestemd op de testvereisten


Normen & procedures

DIN EN ISO 20502 / ASTM C1624 - Bepaling van de hechting en mechanische storingsmodi van harde keramische coatings met behulp van een krastest.

ISO 27307
- Evaluatie van de hechting en cohesie van thermisch gespoten keramische lagen op een dwarsdoorsnede met behulp van een dwarskrastest.

ASTM G171 - Bepaling van de krashardheid van materiaaloppervlakken met behulp van een gedefinieerde diamantstylus, een constante normaalkracht en evaluatie van de resterende krasbreedte.

Voor laboratoria die elke dag kritische beslissingen nemen

Qscratch 20 is een geautomatiseerde macro/micro scratch tester voor coatings en functionele oppervlakken. Het systeem combineert gecontroleerde krachtuitoefening, geïntegreerde optische evaluatie en geleide softwarebediening en een rapportgeneratie. Het is speciaal ontwikkeld voor laboratoria die dagelijks kritieke beslissingen nemen over oppervlakken.

Praktische kwaliteitsborging & geïntegreerde workflows

Ontworpen voor kwaliteitsborging: het systeem combineert gestandaardiseerde krastests met hoge herhaalbaarheid, efficiënte documentatie en intuïtieve bediening.QpixControl2, de geïntegreerde workflow, flexibele exportopties en optionele inspectiefuncties maken het tot een krachtige, alles-in-één oplossing in plaats van een eenvoudige stand-alone tester.

Investeringszekerheid op lange termijn door QATM-expertise

QATM brengt vele jaren ervaring in hardheidstests, metallografie en wereldwijde service naar zijn scratchtestportfolio, waardoor uw investering op de lange termijn wordt veiliggesteld.

Testprincipe DIN EN ISO 20502 | ASTM C1624 Een gedefinieerde kras. Een gecontroleerde belasting. Een duidelijke evaluatie.

Het principe

Bij de krastest wordt een diamanten stylus onder een bepaalde normaalkracht over het gecoate oppervlak bewogen. Zichtbare gebeurtenissen zoals barsten, spallen of penetratie van de coating worden gelokaliseerd langs de krasmarkering en toegewezen aan de bijbehorende kritische belasting. Zo geeft de krasmarkering niet alleen aan dat er een storing optreedt; het laat ook zien waar deze optreedt – en maakt de belasting op het kritische punt traceerbaar.

Faalgebeurtenissen definiëren en toewijzen

Lc1 - Initiële scheurvorming / plastische vervorming

Lc2 - Spallen

Lc3 - Penetratie van de coating tot op de ondergrond

Afbeelding: Mislukkingsgebeurtenissen

Van scratch track tot traceerbaar resultaat Keramische coatings. Evaluatie van hechtings- en faalmodi.

Het volgende interactieve gedeelte laat zien hoe typische storingsgebeurtenissen langs de krasbaan worden geanalyseerd.Klik op de LC-punten om te zien hoe barsten, spallen en coatingpenetratie worden geassocieerd met specifieke posities en belastingen.

Selecteer een materiaal en verken de Lc-punten

Dunne, harde keramische coatings (meestal 0,1 - 30 μm)

  • Carbide TiC, CrC
  • Nitride TiN, CrN, TiAlN
  • Oxide Al2O3
  • Diamond Diamond coating
  • Diamantachtige carbon DLC

Dunne, harde keramische en technische coatings (typisch ≤ 20 μm)

  • PVD TiN
  • PACVD DLC
  • Boogontlading DLC
  • PVD/PACVD Cr-C
  • PVD Al203
  • Hard chroom
Afbeelding: Mislukkingsgebeurtenissen

Micro / Macro Kras tester Qscratch 20 Revolutionair optisch systeem

Het door QATM ontwikkelde, in eigen huis vervaardigde lenssysteem zet nieuwe maatstaven. Koehler-verlichting biedt niet alleen kristalheldere beeldkwaliteit voor hardheidstests, maar gebruikt ook wit LED-licht en motorgestuurde diafragmabekisting om een ideaal contrast te produceren, zelfs voor beelden met hoge vergroting.

Ervaren metallurgen zijn het erover eens dat de beeldkwaliteit van de Qscratch in alle opzichten vergelijkbaar is met die van gevestigde geavanceerde microscopen. Het up-to-date concept en de nieuwe lenzen in het optische systeem stellen het apparaat in staat om zelfs volledig te voldoen aan de strengste fysieke 'testsysteemdefinitie'-eisen in overeenstemming met DIN EN ISO6507-1/2:2018.

Micro / Macro Kras tester Qscratch 20 Innovative Operation


8-standen automatische gereedschapswisselaar

De gemotoriseerde gereedschapswisselaar biedt plaats aan maximaal drie krastestmodules en maximaal zeven lenzen, waardoor overzicht, gedetailleerde inspectie en Lc-bepaling direct binnen de krastestsequentie kunnen worden uitgevoerd – op een enkele as en zonder offset.

Verticaal concept met 2 Z-assen

Er zijn doorslaggevende voordelen bij het verdelen van verticale bewegingen over 2 assen. Via de eerste Z-as is er dynamische bewegingscontrole, waardoor de indenter snel en gemakkelijk naar het testoppervlak kan worden gepositioneerd met een snelheid tot 30 mm / s. De extra tweede Z-as in het QATM-systeem biedt een positioneringssysteem met hoge resolutie voor grotere precisie bij het uitoefenen van kracht en focussering.

Test oppervlak verlichting

Alle toestellen zijn voorzien van de nieuwe LED werkruimte verlichting: vereenvoudigd positioneren van monsters voor afzonderlijke analyses.

CAS Technologie

Innovatief systeem ter vermijding van botsingen (Collision Avoiding System = CAS) voorkomt  op basis van voorspellende 3D bewegingsberekeningendat de mechanische componenten met elkaar in contact komen omwille van bedieningsfouten.

Digitale schuifmaat

De digitale schuifmaat is compatibel met het Qpix Control2-systeem en leest de afmetingen, hoogte en diameter van componenten draadloos en met een druk op de knop in de software in. Met de hoogteregeling van de testkop in A- en A + -versies kan de testhoogte volledig automatisch worden bekomen zonder handmatige invoer.

Verlichte status weergave Brengt licht in de duisternis

Het verlichte QATM-logo geeft in één oogopslag de actuele status van het apparaat weer. Het bereik van de flitsintervallen geeft aan of het apparaat automatisch werkt of vrij is om te worden gebruikt voor nieuwe taken voor personeel in het hele lab. Bovendien zorgt de standaard geïnstalleerde LED-verlichting voor de juiste positie van monsters en monsterhouders.

Op de Qscratch 20 zorgt het ook voor een uniforme lichtintensiteit voor monsterbeeldvorming.

Micro / Macro Kras tester Qscratch 20 Pionierstechnologie - Unieke implementatie


Evalueerbaar en vergelijkbaar

De geselecteerde belastingslogica is gekoppeld aan de krasmarkering, positie en resultaat.Methoden kunnen worden toegepast op monsterseries, coatingvarianten en procesvergelijkingen.

Controleren van de diamanten stylus

De diamantpunt kan direct in het systeem visueel worden geïnspecteerd, waardoor de conditie van de diamantstylus voor of na de test kan worden gecontroleerd - een belangrijke stap om reproduceerbare resultaten en traceerbare testomstandigheden te garanderen.

Universele monsterhouder

Verstelbare klembekken zorgen voor het veilig vasthouden van verschillende specimengeometrieën - van platte en hoekige proefstukken tot ronde of zeer kleine specimens.

High-resolution sample image (HRI)

If high-quality images of larger areas are required (e.g. for weld seam measurements), the area can be scanned using the HRI function. The Qpix Control 2 software automatically combines the individual images into one large overall image.

Monster camera

It’s no coincidence that most QATM customers choose the ‘A+’ version with a built-in sample image camera. In a few seconds the image of the sample is shot with the additional camera (field of view 52 x 39 mm). The image provides excellent navigational support within the software, particularly in combination with DOUBLE-VIEW TECHNOLOGY, and aids enhanced documentation in the automatically compiled test report.

Precieze afstand / Krachtuitoefening

Nauwkeurige elektronische belastingsregeling zorgt ervoor dat de testbelasting, een kritische testparameter, te allen tijde gecontroleerd, reproduceerbaar en traceerbaar blijft.

Scratchworkflow Eenvoudig testen, efficiënte analyse


QpixControl2 is meer dan alleen een gebruikersinterface: de software combineert een gepatenteerd 3D-gebruikersconcept met een naadloze scratchworkflow. Tests kunnen eenvoudig worden gemaakt, scratchmarkeringen visueel worden gepositioneerd, enkele of meerdere metingen automatisch worden verwerkt en relevante Lc-gebeurtenissen op een gestructureerde manier worden geëvalueerd. Van testdefinitie via beeldvastlegging en evaluatie tot gegevensbeheer, export en gestandaardiseerde rapportage, alle stappen blijven geïntegreerd binnen een intuïtieve softwareomgeving. Dit vermindert de operationele inspanning, ondersteunt reproduceerbare processen en maakt het efficiënt gebruik van scratchtesten in productiegerichte kwaliteitsborging mogelijk.

Van setup naar rapport In 3 stappen naar het resultaat

1. Laad steekproef

De monsterhouder wordt automatisch naar de juiste hoogte verplaatst en het monsterbeeld wordt automatisch vastgelegd.

2. Positionering

Sleep het beginpunt van de krastest direct naar de gewenste positie.

3. Start Meetreeks

De testvolgorde verloopt volledig automatisch en volgens de Scratch-testnormen, waarna de storingsgebeurtenissen kunnen worden geëvalueerd en toegewezen aan de respectievelijke Lc-punten.

Software Inbegrepen functies

Software Opties

Microscopy & Analysis

Qpix Control2 Innovative software functions

Eenmalige en meervoudige inspecties

Enkele of meerdere metingen: Krasmarkeringen kunnen direct in de software worden geplaatst, met een gedefinieerde offset worden gemaakt en automatisch worden verwerkt.De Lc-resultaten worden voor elke test geëvalueerd, evenals een seriegemiddelde.

Een breed scala aan instelmogelijkheden

Belastingsdefinitie, scheurlengte, belasting, snelheid en lensselectie worden direct binnen de methode beheerd.Voor evaluatie kunnen standaardsjablonen of aangepaste sjablonen worden gebruikt en aangevuld met grenswaarden en streefwaarden.

Geleide Lc-bepaling

Grafische sjablonen ondersteunen de consistente classificatie van typische storingsgebeurtenissen, wat op standaarden gebaseerde procedures vergemakkelijkt en de ruimte voor interpretatie vermindert.

Kracht/Afstand grafiek

De kracht-afstand curve documenteert de uitgeoefende belasting langs de scratch track.Anomalieën in de curve kunnen worden vergeleken met zichtbare mislukking gebeurtenissen en gebruikt voor Lc evaluatie

Lc details

Relevante storingsgebeurtenissen langs de scratchtrack kunnen in detail in de afbeelding worden bekeken en aan de bijbehorende Lc-details worden toegewezen, waardoor de visuele beoordeling wordt omgezet in een verifieerbaar testresultaat

rapport

Testparameters, scratchtrack, Lc-waarden en evaluatieresultaten worden gebundeld in een testrapport, wat documentatie, het vergelijken van testseries en de verspreiding van resultaten binnen het kwaliteitsproces vereenvoudigt.

Eén platform Meer dan alleen scratchtesten

QSCRATCH 20 / QNESS 60 A+ EVO

Qscratch 20 maakt deel uit van een modulair QATM-platform. Naast scratchtesten kunnen hardheidstestmethoden, analysefuncties en andere coatingtests optioneel worden geïntegreerd. Dit vermindert de noodzaak om van systeem te wisselen, consolideert resultaten in een vertrouwde softwareomgeving en zorgt voor investeringszekerheid op lange termijn.

Hardness testing

Optionele hardheidsupgrade voor Vickers, Knoop, Brinell en Rockwell - geïntegreerd in de QpixControl2-softwareomgeving.

Analyse

Optionele analysefuncties voor laagdikte, fasen, korrelgrootte en lasnaden - voor meer informatie vanuit één systeem.

Krastesten

Gecontroleerde krastests met progressieve of constante belasting - voor het evalueren van coatings, oppervlakken en kritische belastingen.

Hardness testing

DIN EN ISO 6507, ASTM E-92, ASTM E-384

HV 0.00025* HV 0.0005* HV 0.001 HV 0.002 HV 0.003 HV 0.005 HV 0.01 HV 0.02 HV 0.025* HV 0.05 HV 0.1 HV 0.2
HV 0.3 HV 0.5 HV 1 HV 2 HV 2,5 HV 3 HV 5 HV 10 HV 20 HV 30 HV 50 HV 60*

DIN EN ISO 4545, ASTM E-92, ASTM E-384

HK 0.001 HK 0.002 HK 0.005 HK 0.01 HK 0.015 HK 0.02 HK 0.025
HK 0.1 HK 0.2 HK 0.3 HK 0.5 HK 1 HK 2

DIN EN ISO 6506, ASTM E-10

HBW 1/1 HBW 1/2.5 HBW 1/5 HBW 1/10 HBW 1/30
HBW 2.5/6.5 HBW 2.5/31.25 HBW 5/62.5 HBW 5/25 HBW 5/62.5

DIN EN ISO 6508, ASTM E-18

HRA HRF HR15-N/T HR30-N/T HR45-N/T

Geïntegreerde conversies: DIN EN ISO 18265, DIN EN ISO 50150, ASTM E140

* niet volgens normen

Coatinginspectie eenvoudig gemaakt Qpix inspecteren voor krater-slijpen en rockwell hechting testen

De optionele Qpix Inspect-modules breiden de Qscratch 20 uit met praktische functies voor coatingevaluatie. Kraterslijpen ondersteunt microscopische laagdiktemeting volgens DIN EN ISO 26423, terwijl de Rockwell-hechtingstest een kwalitatieve hechtingsevaluatie van keramische coatings volgens DIN EN ISO 26443 mogelijk maakt. Hierdoor kan aanvullende informatie over coatingkwaliteit rechtstreeks binnen de vertrouwde QpixControl2-softwareomgeving worden vastgelegd, geëvalueerd en gedocumenteerd.

Kraterslijpende laagdiktemeting

Kraterslijpmethode voor microscopische laagdiktebepaling als aanvullende informatie voor coatingevaluatie volgens DIN EN ISO 26423.

Rockwell inkepingstest

Rockwell inkepingstest voor kwalitatieve hechtingsevaluatie van keramische coatings conform DIN EN ISO 26443.

Structurele analyse makkelijk gemaakt Qpix inspectie software modules

The intuitive and user-friendly Qpix INSPECT software functionality provides a comprehensive toolbox for microscopic evaluations and result documentation. The multifunctional software can be customized for customer-specific measuring tasks and complemented with add-on modules.

Inspecteer fase analyse

  • Automatische afbeelding object dimensionering
  • Evaluatie van fasefracties volgens DIN 9042, ASTM E-562 en ASTM E-1245
  • Levert analyse-resultaten als percentage verhoudingen van een oppervlak of als nominale oppervlakte waarden in tabel of grafiek

Inspecteer laagdikte meting

  • Bepaling van laagdikte volgens DIN EN ISO 1463
  • Halfautomatische meting van horizontale, verticale en radiale lagen
  • Voorziening van laagdikte als statistische waarden voor lengtes als tabellen of grafieken

Inspecteer korrelgrootte bepaling

  • Deeltjesgrootte, bepaald volgens DIN EN ISO 643 en ASTM E-112 via lineaire of circulaire sectie methode
  • Analyse-resultaten als tabel of grafiek
  • Documentatie van statistische eigenschappen voor korrelgrootte en segment lengtes van de deeltjesdoorsnede

Inspect
weld seam measurement

  • Standardised measurement and evaluation of weld seams
  • Prefabricated templates with all relevant measuring tools suchas throat thickness, weld reinforcement, penetration depth, etc.
  • Automatic good/bad evaluation and report generation.

IoT - Internet of things The platform for remote access to your devices

All QATM hardness testers with QpixControl2 and QpixT2 software seamlessly integrate into the Verder Scientific IoT platform, providing enhanced functionality and seamless connectivity.

  • Real-time Monitoring: Monitor your machinery in real time, from anywhere in the world. This data-driven approach empowers you to make informed decisions with ease.
  • Live Notifications: Be ahead of the curve with immediate alerts and updates. Real-time notifications ensure you stay informed about your equipment's performance, leading to proactive maintenance.
  • Effortless Backup: Simplify your data protection. Whether you need to back up a single device or an entire fleet, our platform streamlines the process, minimizing downtime and data loss.
  • Automatic & Free Software Updates: Bid farewell to manual updates! Verder Scientific IoT ensures your customers' machines are consistently equipped with the latest software, optimizing performance and reliability.

 

Industrie 4.0 Qconnect voor een verbonden toekomst


Qconnect is de interface in QATM Qpix Control2 software, waarmee gebruikers werken men een volledig pakket voor onderling gekoppelde apparatuur, gaande van reeks-verwerking, open XML interfaces (bi-directioneel) en vooraf gespecifieerde plug-in oplossing, zoals de QDAS Plug-In+, langs klantspecifieke connectiviteitsoplossingen, volledig door QATM geïmplementeerd. We hebben een professionele oplossing voor elke toepassing.

Approved quality Gegevensuitwisseling & monitoring

Rapport & Auto-export

Testresultaten, Lc-resultaten, scratchtrack-informatie en testparameters kunnen in een gestructureerd formaat worden gedocumenteerd en geëxporteerd.Gestandaardiseerde testrapporten en flexibele exportopties vergemakkelijken de overdracht van resultaten naar kwaliteitsborgings-, documentatie- of hogere systemen.

Barcode/QR-code/DMC-lezer

Qpix softwareplatforms ondersteunen het gebruik van barcode- en QR-codelezers, wat de workflow voor inspecteurs vereenvoudigt en bedieningsfouten voorkomt. Het invullen van headergegevens is eenvoudig (standaard), en lezers kunnen volledig worden geïntegreerd om automatisch sjablonen te selecteren of gegevens op te halen uit systemen op een hoger niveau (optioneel).

Login via NFC

The Qpix Control 2 software supports user login using an external NFC reader. Depending on the NFC tag/card, the customer‘s existing access cards can also be programmed in, for example.

Micro / Macro Kras tester Qscratch 20 Technische Gegevens


Bereik testkracht 0,5* - 200 N
Constante belasting Enkele en meervoudige metingen
Progressieve belasting Enkele en meervoudige metingen
Z-as Dynamisch, geautomatiseerd (CAS-Technisch), Reisafstand Z 150 mm (5,91“)
Gereedschap posities 8-voudig gemotoriseerde gereedschapswisselaar (max. 3 testmodules, max. 7 lenzen)
Inbegrepen basisuitrusting Rockwell diamant; 5x, 20x, 50x lenzen
Lenstypes Standaard (Achromat) en Hoge kwaliteit (Semi-apochromat) voor hardheidstests en microscopie
Monster foto camera 5 Mpixel - CMOS kleur, USB3.0 52 x 39 mm (2.05 x 1.54“)
Kruisschuif Gemotoriseerde X/Y-as
Afmetingen tafel 150 x 120 mm (5,91 x 4,72")
Positioneringsnauwkeurigheid X/Y-as +/- 0,2 μm
Dwars pad X 150, Y 150 mm (5,91 x 5,91")
Besturingselementen Noodstop, Startknop, Joystick X/Y/Z
Max. hoogte werkstuk 50 kg (110 kg)
Gewicht van basisapparaat 60 kg (132,3 lbs)
optioneel Hardheid Upgrade en Qpix Inspecteren Module

* 0,5 N en 1 N > 1% nauwkeurigheid

Micro / Macro Kras tester Qscratch 20 Downloads

Toont resultaten 1 - 5 van 5
Alle filters terugzetten